產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
本高低溫環(huán)境試驗設(shè)備可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進行設(shè)計制造，可進行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗。
更新時間：2017-12-19
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高低溫環(huán)境試驗箱|高低溫試驗箱|恒溫試驗箱|恒溫箱|恒溫試驗機|低溫箱|低溫試驗箱
參 照 標 準
本高低溫環(huán)境試驗設(shè)備滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關(guān)標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進行設(shè)計制造，可進行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗。
高低溫環(huán)境試驗設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)
l 型號： GDW－250D型
l 工作室尺寸（D×W×H）： 500×600×810㎜
l 外型尺寸（D×W×H）： 1150×900×1750㎜
l 溫度范圍： －60℃～150℃
l 溫度均勻度： ≤ 2℃ （空載時）
l 溫度波動度： ±0.5℃ （空載時）
l 溫度偏差： ≤±2℃
l 升降溫速率： 0.7℃～1.0℃/min
l 時間設(shè)定范圍： 0～999 小時
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